Genius IF SDD/ SDD LE
采用二次靶激發模式的臺式EDXRF光譜儀
一、 主要特點
(1)、可對C(6)-Fm(100)(次ppm~100%)進行無損定性、定量分析；
(2)、采用專利WAG(Wide Angle Geometry)技術，配備8個二次靶；
(3)、8款管濾光片，更快更精確的測定微量及痕量元素；
(4)、標準配置硅漂移探測器SDD，適于高和低原子序數的元素分析檢測；
(5)、針對輕原子序數元素，可配備分辨率達123eV的SDD LE探測器；
(6)、外型堅固耐用，適于移動實驗室，符合沖擊試驗MIL810E規格；
(7)、檢測光斑可變，適于不同尺寸和形狀的樣品檢測；
(8)、配備集成電腦、專業nEXt＆#8482;分析軟件，操作方便；
二、二次靶激發技術介紹
二次靶激發技術能最大程度的去除散射背景，提高信噪比，降低檢測器的檢測限。如圖，樣品為含少量Cr，Mn，Fe雜質的Ni合金。當直接激發時(綠)，雜質元素的吸收信號被Ni元素的吸收信號淹沒；相反，使用Ni二次靶激發時，雜質元素的吸收信號被大大加強。
三、主要技術參數
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系統規格 |
SDD 版本 |
SDD LE |
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測量范圍 |
F(9) - Fm(100) |
C(6) - Fm(100) |
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測量濃度 |
次 ppm -100% |
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X-射線管靶材 |
Rh靶 |
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X-射線管電壓/功率 |
50kV, 50W |
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激發類型 |
直接激發和二次靶激發 |
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探測器 |
硅漂移探測器SDD |
超級 SDD |
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分辨率(FWHM) |
129eV ± 5eV |
123eV ± 5eV |
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自動進樣器 |
8位 |
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工作環境 |
空氣/真空/氦氣 |
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管濾光片 |
8款軟件可選 |
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二次靶 |
8種 |
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操作軟件 |
nEXt＆#8482;分析包(包含基礎基本參數法) |
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選配件 |
16位自動進樣器、專業基本參數法、真空泵、氦氣凈化器等 |
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