布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項創(chuàng)新性的設計，可以提供無與倫比的重現(xiàn)性，重現(xiàn)性低于5Å。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dektak技術創(chuàng)新的頂峰，更加鞏固了其行業(yè)領先地位。通過整合其行業(yè)領先產(chǎn)品，DektakXT實現(xiàn)了最高性能。操作簡易，從研發(fā)到質(zhì)量控制都有更好的過程控制。整合了技術突破到第十代DektakXT臺階儀，能夠在微電子，半導體，超高亮度發(fā)光二極管（LED）、醫(yī)學、材料科學等行業(yè)實現(xiàn)納米級表面形貌測量。
DektakXT 技術參數(shù)：
—臺階高度重復性5Å
—Single-arch設計大大提高了掃描穩(wěn)定性
—前置敏化器件，降低了噪音對測量的干擾
—新的硬件配置使數(shù)據(jù)采集能力提高了40%
—64-bit，這一Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件，使數(shù)據(jù)分析速度提高了十倍。
功能卓越，操作簡易
—直觀的Vision64用戶界面操作流程簡便易行
—針尖自動校準系統(tǒng)讓用戶更換針尖不再是難事
臺階儀（表面輪廓儀）領域無可撼動的世界領先地位
—布魯克的臺階儀，體積輕巧，功能強大。
—單傳感器設計提供了單一平面上低作用力和寬掃描范圍